OFERTA ZAKŁADU METROLOGII I SYSTEMÓW POMIAROWYCH

  • Pomiary chropowatości i topografii powierzchni, w tym nanometrologiczne. Pomiary wykonywane są na profilometrach stykowych i optycznych, które nie niszczą badanej powierzchni materiałów elastycznych. Mikroskop sił atomowych dzięki odpowiedniej konstrukcji pozwala na pomiar na powierzchni wyrobów o dużych rozmiarach.
  • Pomiary termowizyjne pozwalające na szybką diagnozę stanu termicznego obiektów we wszystkich obszarach nauki i techniki. Sprawdzanie przyrządów do bezstykowego pomiaru temperatury.
  • Pomiary błędów kształtu laserowymi metodami interferometrycznymi, holograficznymi i shearograficznymi z nanometryczną zdolnością rozdzielczą
  • Stykowe pomiary współrzędnościowe, punktowe i skaningowe oraz pomiary skanerem optycznym.Pomiary dokładności wykonania elementów zgodnie z dokumentacją techniczną lub modelem CAD. Możliwe jest odtworzenie rzeczywistego kształtu elementu w procesie inżynierii odwrotnej
Kontakt
prof. dr hab. inż. Michał Wieczorwski
Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych
ul. Piotrowo 3, 60-965 Poznań
+4861 665 35 70
Michal.Wieczorowski@put.poznan.pl
www.zmisp.mt.put.poznan.pl
Administracja strony: Joanna Loręcka Joanna.Lorecka@put.poznan.pl ©Instytut Technologii Mechanicznej
Strona znajduje się na serwerze Politechniki Poznańskiej
Instytut Technologii Mechanicznej IMt
Kontakt
Dokumenty do pobrania
Kierownictwo
Zakłady
Prace dyplomowe
Dydaktyka
Seminaria
Oferta dla przemysłu
Studia podyplomowe
[Rozmiar: 49055 bajtów]