OFERTA ZAKŁADU METROLOGII I SYSTEMÓW POMIAROWYCH

  • Pomiary chropowatości i topografii powierzchni, w tym nanometrologiczne. Pomiary wykonywane są na profilometrach stykowych i optycznych, które nie niszczą badanej powierzchni materiałów elastycznych. Mikroskop sił atomowych dzięki odpowiedniej konstrukcji pozwala na pomiar na powierzchni wyrobów o dużych rozmiarach.
  • Pomiary termowizyjne pozwalające na szybką diagnozę stanu termicznego obiektów we wszystkich obszarach nauki i techniki. Sprawdzanie przyrządów do bezstykowego pomiaru temperatury.
  • Pomiary błędów kształtu laserowymi metodami interferometrycznymi, holograficznymi i shearograficznymi z nanometryczną zdolnością rozdzielczą
  • Stykowe pomiary współrzędnościowe, punktowe i skaningowe oraz pomiary skanerem optycznym.Pomiary dokładności wykonania elementów zgodnie z dokumentacją techniczną lub modelem CAD. Możliwe jest odtworzenie rzeczywistego kształtu elementu w procesie inżynierii odwrotnej
Kontakt
prof. dr hab. inż. Michał Wieczorowski
Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych
ul. Piotrowo 3, 60-965 Poznań
+4861 665 35 70; 665 35 67
Michal.Wieczorowski@put.poznan.pl
www.zmisp.mt.put.poznan.pl
Administracja strony: Joanna Loręcka Joanna.Lorecka@put.poznan.pl ©Instytut Technologii Mechanicznej
Strona znajduje się na serwerze Politechniki Poznańskiej
Instytut Technologii Mechanicznej IMt
Kontakt
 
INSTYTUT TECHNOLOGII MECHANICZNEJ
Politechnika Poznańska
Dokumenty do pobrania
Aktualności
Zakłady
Prace dyplomowe
Dydaktyka
Seminaria
Oferta dla przemysłu
Studia podyplomowe
Projekty