ZAKŁAD METROLOGII I SYSTEMÓW POMIAROWYCH
Poniedziałki, godz. 11:30, sala 135 CMBiN

Imię i nazwisko Data Temat
Michał Mendak 26 marca 2018 Wykorzystanie mikroskopii różnicowania ogniskowego do analizy nierówności powierzchni i kształtu
Karol Grochalski 9 kwietnia 2018 Wpływ temperatury na wiarygodność profilometrii stykowej
Radomir Majchrowski 7 maja 2018 Wpływ nierówności powierzchni na emisyjność
Dawid Kucharski 4 czerwca Uwarunkowania interferometrycznych pomiarów nierówności powierzchni
Administracja strony: Joanna Loręcka Joanna.Lorecka@put.poznan.pl ©Instytut Technologii Mechanicznej
Strona znajduje się na serwerze Politechniki Poznańskiej
Instytut Technologii Mechanicznej IMt
Kontakt
 
INSTYTUT TECHNOLOGII MECHANICZNEJ
Politechnika Poznańska
Dokumenty do pobrania
Aktualności
Zakłady
Prace dyplomowe
Dydaktyka
Seminaria
Oferta dla przemysłu
Studia podyplomowe
Projekty