ZAKŁAD METROLOGII I SYSTEMÓW POMIAROWYCH
Poniedziałki, godz. 11:45, sala 135 CMBiN

Imię i nazwisko Data Temat
Robert Koteras 9 października 2017 Wpływ łączenia skanów na dokładność pomiaru skanerem optycznym
Leszek Różański 20 listopada 2017 Wymagania normy ISO 17025 w kwestii laboratorium wzorcującego kamery termowizyjne
Karol Grochalski 4 grudnia 2017 Algorytm kompensacji błędów termicznych w profilometrii
Natalia Swojak 15 stycznia 2018 Wykorzystanie analizy obrazu w metrologii długości i kąta
Administracja strony: Joanna Loręcka Joanna.Lorecka@put.poznan.pl ©Instytut Technologii Mechanicznej
Strona znajduje się na serwerze Politechniki Poznańskiej
Instytut Technologii Mechanicznej IMt
Kontakt
 
INSTYTUT TECHNOLOGII MECHANICZNEJ
Politechnika Poznańska
Dokumenty do pobrania
Aktualności
Zakłady
Prace dyplomowe
Dydaktyka
Seminaria
Oferta dla przemysłu
Studia podyplomowe
Projekty